安捷倫惠普HP4193A 阻抗分析儀
主要用途
測試材料的阻抗Z,導納Y,電感L,電阻R,介電損耗D ,品質因數
射頻阻抗計量器具檢定系統Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments
JJG 2011-87代替:高頻阻抗量值傳遞系統
射頻阻抗計量器具檢定系統
本檢定系統適用于射(高)頻集總參數阻抗計量器具(即檢測20kHz-1GHz頻段的
R,L,C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件),規定了射頻(習慣
上也稱高頻)集總參數阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
一、計量基準器具
1、高頻集總參數阻抗的國jia計量基準器具是指用于復現和保存20kHz-1000GHz高
頻阻抗量值(包括電介質材料的復數介電常數和軟磁材料的復數導磁率)的計量設備
和量具。
2、射(高)頻集總參數阻抗計量基準器具包括:
2.1空氣介質同軸線阻抗基準,其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性論
計算求得。它用以校準按反射系數測量原理設計的高頻阻抗***測量裝置。空氣介質
同軸線也是微波阻抗國jia基準,本檢定系統移用它,有利于射(高)頻、微波阻抗量值的統一。在(1-1000)MHz頻段,其技術指標為:反射系數模值|г|:1.000±0.002; 相角:±180°±0.5°。
2.2高頻阻高頻阻抗***測量裝置,它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀,經過準確度論證分析,***高頻集總參數阻抗量的以下計量工作性能:
頻率:(1-1000)MHz
反射系數模值|г|:1.000±(0.003-0.007)
相角θ:±180°±0.5°;
阻抗模值|Z|:1Ω-10kΩ±(0.5-10)%
電容C:10pF-100nF±(0.2-10)%;
電感L:10nH-100μH±(0.2-10)%
損耗:tgδ(D)0.001-0.5±<(0.002-0.05)
回收銷售:
美國原裝NI-PCI系列數據采集
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